液體式冷熱沖擊試驗箱

液體式冷熱沖擊試驗箱

用途：

用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產品于熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害，可確認產品的品質,從精密的IC到重機械的組件，無一不需要它的理想測試工具.

液體式冷熱沖擊試驗箱

技術參數

1.溫度范圍：-40℃～150℃(D)

2.濕度范圍：30%～98%R.H（溫度在25℃～95℃）

3.溫度均勻度：≤±2℃  （空載時）

4.濕度均勻度：+2%  -3%R.H

5.溫度波動度：≤±0.5℃ （空載時）

6.濕度波動度：±2%

7.溫度偏差：≤±2℃

8.濕度偏差：≤±2%

9.降溫速率：0.7～1.0℃/min

10.升溫速率：1.0～3.0℃/min

11.時間設定范圍：0～999 小時

12.電源電壓：380V±10%

13.設備總功率：3KW～15KW

設備特點

1. 溫濕度控制范圍廣，可模擬各種環(huán)境條件下的溫度和濕度變化；

2. 采用超前的PID控制技術，溫濕度控制精度高，穩(wěn)定性好；

3. 內膽采用優(yōu)質不銹鋼材料，耐腐蝕，易清潔；

4. 設備配備安全保護裝置，保證操作人員和設備的安全；

5. 設備可進行多段程序控溫，滿足不同產品的測試需求。

執(zhí)行標準:

GB10589-2006 低溫試驗箱技術條件

GB10592-2006-40℃高低溫實驗箱技術條件

GB11158-2006 高溫試驗箱技術條件

GB/T2423.1-2001 試驗A：低溫試驗方法

GB/T2423.2-2001 試驗B：高溫試驗方法

GB/T5170.2-1996 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法