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三箱式冷熱沖擊試驗箱 TSD系列

三箱式冷熱沖擊試驗箱 TSD系列
適用于電子電工、航空航天、汽車摩托車、科研單位、高等院校、各種電子元氣件等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫、恒溫環(huán)境下貯存和使用時的適應性試驗，檢測其各性能指標。

產(chǎn)品型號：TSD-50F-3P
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2024-12-23
訪問量：245

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聯(lián)系電話：0769-81085056

詳細介紹

三箱式冷熱沖擊試驗箱 TSD系列

特點:

采用圓弧造型及霧面線條處理，高質(zhì)感外觀，并采用平面無反作用把手，操作容易，可靠

全封閉結(jié)構(gòu)，采用強力循環(huán)馬達，低噪音冷凍裝置:

附有防震臺墊，使得機臺在運轉(zhuǎn)過程中能保持安靜及穩(wěn)定;

具有被測試件通電測試功能(負載測試);

采用飛利浦照明窗口燈、內(nèi)詈耐高溫除霧裝置，便于觀察箱內(nèi)產(chǎn)品試驗情況

具有多種保護裝置，性能可靠。

三箱式冷熱沖擊試驗箱 TSD系列

控制系統(tǒng)：

　　1、溫度控制采用進口觸摸按鍵式儀表，操作設定簡單。

　　2、資料及試驗條件輸入后，控制器具有鎖定功能，避免人為觸摸而改變溫度值。

　　3、具有P.I.D自動演算的功能，可將溫度變化條件立即修正，使溫度控制更為準確穩(wěn)定。

標準:

GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫設備》的要求,

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法GB2423.2-89(IEC68-2-2);

GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法:

GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗

GB/T5170.2-96《溫度試驗設備》

GB10592-93《高、低溫試驗箱技術(shù)條件》

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